<html>
<head>
<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=us-ascii">
<meta name="Generator" content="Microsoft Exchange Server">
<!-- converted from rtf -->
<style><!-- .EmailQuote { margin-left: 1pt; padding-left: 4pt; border-left: #800000 2px solid; } --></style>
</head>
<body>
<font face="Calibri" size="3"><span style="font-size:12pt;">
<div><b>The 15</b><font size="1"><span style="font-size:8pt;"><b><sup>th</sup></b></span></font><b> IEEE Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects</b></div>
<div><b>SELSE 2019 (</b><a href="http://www.selse.org/"><font color="#0B4CB4"><u>http://www.selse.org</u></font></a><b>)</b></div>
<div>March 27 – March 28, 2019, Stanford, Palo Alto, CA, USA</div>
<div><font size="2"><span style="font-size:11pt;"> </span></font></div>
<div style="margin-top:10pt;margin-bottom:4pt;"><font face="Cambria"><b>Important dates:</b></font></div>
<ul style="margin:0;padding-left:36pt;">
<li style="margin-top:4pt;"><b>Paper Registration (mandatory):         December 18, 2018 </b></li><li><b>Paper Submission (for registered papers):       January 11, 2019 </b></li><li><b>Author Notification:                            February 15, 2019</b></li><li><b>Early Registration:                             February 22, 2019</b></li><li><b>Camera-Ready Submission:                        March 8, 2019</b></li></ul>
<div style="text-align:left;margin-top:10pt;">The growing complexity and shrinking geometries of modern manufacturing technologies are making high-density, low-voltage devices increasingly susceptible to the influences of electrical noise, process variation,
transistor aging, and the effects of natural radiation. The system-level impact of these errors can be far-reaching, both in safety-critical aerospace and automotive applications and also for large scale servers and high-performance applications. </div>
<div style="text-align:left;margin-top:10pt;">The SELSE workshop provides a unique forum for discussion of current research and practice in system-level error management. SELSE solicits papers that address the system-level effects of errors from a variety of
perspectives: architectural, logical, circuit-level, and semiconductor processes. Case studies in real-world contexts are also welcome.</div>
<div style="text-align:left;margin-top:10pt;">We are happy to announce that selected SELSE papers will be included in the “Best of SELSE” session at IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN), 2019. These papers will be selected
based on the importance of the topic, technical contributions, quality of results, and authors’ agreement to travel to present at DSN in Portland, Oregon on June 24 – 27, 2019.</div>
<div style="text-align:left;margin-top:14pt;margin-bottom:4pt;"><font face="Cambria"><b>Areas</b></font></div>
<div style="text-align:left;">Key areas of interest include (but are not limited to):</div>
<ul style="text-align:left;margin:0;padding-left:36pt;">
<li>Error rates and trends in current and emerging technologies, including experimental failure data and the reliability characterization of deployed systems.</li><li>New error mitigation techniques, robust software frameworks, and error handling protocols for resilient system design.</li><li>Case studies analyzing the overhead, effectiveness, and design complexity of error mitigation techniques.</li><li>Resilience characterization and strategies for machine learning applications, including autonomous vehicles.</li><li>Resilience in new architectures, for example accelerator-rich systems and inexact or approximate computing.</li><li>The design of resilient systems for space exploration.</li><li>The interplay between system security issues and reliability.</li></ul>
<div style="text-align:left;"> </div>
<div style="text-align:left;margin-top:10pt;margin-bottom:10pt;"><font face="Cambria"><b>Submission Guidelines</b></font></div>
<div style="text-align:left;margin-top:10pt;margin-bottom:10pt;">Additional information and guidelines for submission are available at <a href="http://www.selse.org/"><font color="#0B4CB4"><u>http://www.selse.org</u></font></a>.  Submissions and final papers
should be PDF files following the IEEE two-column transactions format with six or fewer printed pages of text; the bibliography does not count against this page limit. Papers are not published through IEEE/ACM nor archived in the digital libraries---however,
they are distributed to attendees of the workshop.</div>
<div><font size="2"><span style="font-size:11pt;"> </span></font></div>
<div style="text-align:left;margin-top:10pt;margin-bottom:10pt;"><font face="Cambria"><b>Organizing Committee</b></font></div>
<div>General Co-Chairs               Laura Monroe, LANL</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">John Daly, LPS<br>

</div>
<div>Program Co-Chairs               Michael Sullivan, NVIDIA</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Puneet Gupta, UCLA</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Paolo Rech, UFRGS (Emeritus)<br>

</div>
<div>Finance Co-Chairs               Steven Raasch, AMD</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Sarah Michalak, LANL<br>

</div>
<div>Registration Chair              Karthik Swaminathan, IBM<br>

</div>
<div>Local Arrangements Chair        Saurabh Hukerikar, NVIDIA</div>
<div><font size="2"><span style="font-size:11pt;"><br>

<font size="3"><span style="font-size:12pt;">Publicity Co-Chairs             Michael Sullivan, NVIDIA (North America)</span></font></span></font></div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Tiago Balen, UFRGS (South America)</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Stefano Di Carlo, PoliTo (Europe)</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Yi-Pin Fang, TSMC (Asia)<br>

</div>
<div style="text-indent:-144pt;padding-left:144pt;">Bay Area Industry Liaison       Shahrzad Mirkhani, Bigstream<br>

Mark Gottscho, Google<br>

</div>
<div style="text-indent:-144pt;padding-left:144pt;">Webmaster       Vanessa Job, LANL/UNM<br>

</div>
<div>Advisors to the Committee       Sarah Michalak, LANL</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Alan Wood, Oracle</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;">Vilas Sridharan, AMD</div>
<div style="text-indent:36pt;padding-left:108pt;"><font size="2"><span style="font-size:11pt;"> </span></font></div>
</span></font>

<DIV>
<HR>
</DIV>
<DIV>This email message is for the sole use of the intended recipient(s) and may 
contain confidential information.  Any unauthorized review, use, disclosure 
or distribution is prohibited.  If you are not the intended recipient, 
please contact the sender by reply email and destroy all copies of the original 
message. </DIV>
<DIV>
<HR>
</DIV>
</body>
</html>